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普仁儀器亮相2013檢博會
點(diǎn)擊次數(shù):3049 更新時間:2013-09-22

    為貫徹國家質(zhì)檢總局“科技興檢”戰(zhàn)略,加強(qiáng)關(guān)鍵技術(shù)和科技裝備的應(yīng)用,提升質(zhì)檢科技水平“2013檢驗(yàn)檢測技術(shù)與裝備博覽會暨檢驗(yàn)檢測學(xué)術(shù)大會”于 2013年9月13日—15日在青島會展中心舉辦。“檢博會”旨在通過外檢驗(yàn)檢測技術(shù)與裝備的展示與交流,加強(qiáng)質(zhì)檢系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室“技創(chuàng)新、技術(shù)支撐和一線技術(shù)保障”能力建設(shè)。
     青島普仁儀器將攜PIC系列離子色譜儀及PAS系列自動進(jìn)樣器亮相展會,的儀器產(chǎn)品引起各直屬檢驗(yàn)檢疫局、各地質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局相關(guān)人員,檢驗(yàn)檢測技術(shù)專家及實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)人,第三方檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)的濃厚興趣,大家紛紛前來普仁展臺,咨詢洽談。
    檢驗(yàn)檢疫局 蒞臨展位:

專家及用戶交流洽談: